Ergebnis der Vergabe · Italien
Italien – Rasterelektronenmikroskope – Fornitura di un microscopio FIB/SEM presso il Laboratorio di Superconduttività del Dipartimento NUC del centro ENEA di Frascati
Auslandsverfahren: Italien. Titel und Beschreibung stehen in der Originalsprache (Deutsch), ohne Übersetzung. Beträge stehen in der veröffentlichten Währung, Fristen in deutscher Zeit (MEZ/MESZ).
1.279.004 €
Zuschlagswert
1
Los
Beschreibung
Fornitura di un microscopio FIB/SEM presso il Laboratorio di Superconduttività del Dipartimento NUC del centro ENEA di Frascati
Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Tender Automation die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Analyse ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- ENEA
- Land
- Italien
- Sprache der Bekanntmachung
- Deutsch
- CPV
- 38511100 — Rasterelektronenmikroskope
- Verfahrensart
- Offenes Verfahren
- Veröffentlicht
- 11.09.2026
- Kennung
- a5d60869-7877-4e0f-9b0f-8c15c43473e6
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 11.350.000 €
Zuschlag
- CARL ZEISS S.P.A. CON SOCIO UNICO
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 11.09.2026, 00:00.