Ausschreibung
Wafer Burn In Test (ENAS-11.1.3) - PR1212932-3340-P
01.10.2026, 10:00
Teilnahmefrist · noch 2 Tage
1
Los
Beschreibung
Wafer Burn In Test (ENAS-11.1.3)
Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Tender Automation die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Analyse ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
- Ort
- München
- Bundesland
- Sachsen
- CPV
- 42900000 — Maschinen für allgemeine und besondere Zwecke
- Verfahrensart
- Verhandlungsverfahren mit vorheriger Veröffentlichung eines Aufrufs zum Wettbewerb/Verhandlungsverfahren
- Veröffentlicht
- 31.08.2026
- Teilnahmefrist
- 01.10.2026, 10:00
- Kennung
- 9a01f0dc-8d75-438a-847b-98cdef491e6b
- Quelle
- oeffentlichevergabe.de (Bund)
Lose
- Los 0 — Wafer Burn In Test (ENAS-11.1.3) - PR1212932-3340-P
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 11.09.2026, 18:38.