Ergebnis der Vergabe
Deutschland – Rastersondenmikroskope – Raman- & AFM-System
Beschreibung
Das Fraunhofer-Institut für Lasertechnik ILT beabsichtigt die Beschaffung sowohl eines konfokalen Raman-Mikroskops zur mikro- und nanoskaligen Vermessung der kristallographischen Eigenschaften verschiedener Materialien wie Glas, Saphir oder diverser Halbleiter sowie eines Rasterkraftmikroskops (AFM) zur nanoskaligen Vermessung der Topografie sowie der elektrischen Eigenschaften verschiedener Materialien, wie Glas, Saphir oder diverse Halbleiter.
Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Tender Automation die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Analyse ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Fraunhofer Institut für Lasertechnik
- Ort
- Aachen
- Bundesland
- Nordrhein-Westfalen
- CPV
- 38514200 — Rastersondenmikroskope
- Verfahrensart
- Offenes Verfahren
- Veröffentlicht
- 15.05.2026
- Zuschlag am
- 28.04.2026
- Kennung
- 26621f5e-25c8-4c97-b3df-82161e9be31b
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 0
Zuschlag
- Oxford Instruments GmbHWiesbaden
Verlauf des Verfahrens
-
Ergebnis der Vergabe
13.05.2026
Raman- & AFM-System -
Ergebnis der Vergabe
15.05.2026
Deutschland – Rastersondenmikroskope – Raman- & AFM-System
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 11.09.2026, 19:13.