Tender Automation

Ergebnis der Vergabe

Automated wafer prober (IMS-04) - PR1119714-2380-P

1 Los

Beschreibung

Automated wafer prober (IMS-04)

Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Tender Automation die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

Analyse ansehen

Angaben aus der Bekanntmachung

Ort
München
Bundesland
Bayern
CPV
38500000 — Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen
Verfahrensart
Offenes Verfahren
Veröffentlicht
18.05.2026
Zuschlag am
12.05.2026
Kennung
5b416964-e52b-4a76-9308-63e33942fd2f
Quelle
oeffentlichevergabe.de (Bund)

Lose

Zuschlag

Verlauf des Verfahrens

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 11.09.2026, 17:43.