Ausschreibung
Deutschland – Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) – XPS
Beschreibung
The Walther-Meißner-Institute will acquire an X-ray/Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy (XPS/UPS) system for the characterization of metallic, semiconducting, and insulating thin films, and bulk materials. This includes the characterization of substrate surfaces, characterization of oxide layers by measuring the chemical shift and valence state, determining the oxide layer thickness using angle-resolved XPS, stoichiometry analysis of thin film samples, depth profiling of chemical composition, and measuring the electronic structure of different materials. The system should be operational as stand-alone system but also in connection with an existing ultra-high vacuum (UHV) MBE-PLD deposition system from DCA Instruments Oy. Therefore, fast and easy sample loading but also a reliable sample transfer between the XPS/UPS system and the DCA deposition system is required.
Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Tender Automation die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Analyse ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Lehrstuhl für Technische Physik E23, TUM
- Ort
- Garching
- Bundesland
- Bayern
- CPV
-
38000000 — Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)
Weitere: 38947000 - Verfahrensart
- Offenes Verfahren
- Veröffentlicht
- 15.04.2025
- Angebotsfrist
- 30.05.2025, 12:00
- Kennung
- 1d61f02b-d081-423a-becc-984108155eaf
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 1
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 20:57.