Ergebnis der Vergabe

Deutschland – Mikroelektronische Maschinen und Geräte – Overlay Messsystem - PR651747 - 2480 -W

3 Bieter

1 Los

Beschreibung

PR651747 - 2480 -W Overlay Messsystem

Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Tender Automation die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

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Angaben aus der Bekanntmachung

Auftraggeber: Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
Ort: München
Bundesland: Sachsen
CPV: 31712100 — Mikroelektronische Maschinen und Geräte
Verfahrensart: Verhandlungsverfahren mit vorheriger Veröffentlichung eines Aufrufs zum Wettbewerb/Verhandlungsverfahren
Veröffentlicht: 13.01.2025
Zuschlag am: 10.01.2025
Kennung: b6180e67-1e1c-41f1-8e32-ba247f37a2dd
Quelle: TED (EU-Amtsblatt)

Lose

Los 0

Zuschlag

MueTec Automatisierte Mikroskopie und Messtechnik GmbHMünchen

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Original-Bekanntmachung

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 21:46.