Ergebnis der Vergabe

Deutschland – Elektronenstrahlaufzeichnungsgeräte – Plasma Focussed ion Beam / Rasterelektronenmikroskop - PR439032-2180-W

2 Bieter

1 Los

Beschreibung

Plasma Focussed ion Beam / Rasterelektronenmikroskop

Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Tender Automation die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

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Angaben aus der Bekanntmachung

Auftraggeber: Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
Ort: München
Bundesland: Baden-Württemberg
CPV: 38341100 — Elektronenstrahlaufzeichnungsgeräte
Verfahrensart: Verhandlungsverfahren mit vorheriger Veröffentlichung eines Aufrufs zum Wettbewerb/Verhandlungsverfahren
Veröffentlicht: 11.12.2023
Kennung: 0e858169-a3c8-43ad-a8ad-889edad6b260
Quelle: TED (EU-Amtsblatt)

Lose

Los 0

Zuschlag

FEI Deutschland GmbHDreieich

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Original-Bekanntmachung

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 11.12.2023, 01:00.