Ergebnis der Vergabe

Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – High Resolution Scanning Electron Microscope (SEM) - PR252029-2270-W

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Beschreibung

High Resolution Scanning Electron Microscope (SEM)

Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Tender Automation die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

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Angaben aus der Bekanntmachung

Auftraggeber: Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
Ort: München
Bundesland: Bayern
CPV: 38511100 — Rasterelektronenmikroskope
Verfahrensart: Offenes Verfahren
Veröffentlicht: 20.12.2023
Zuschlag am: 14.03.2023
Kennung: 7e612f5f-a3c7-46fa-ac18-60bd5fbfadcb
Quelle: TED (EU-Amtsblatt)

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Zuschlag

Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbHOberkochen

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Original-Bekanntmachung

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 20.12.2023, 01:00.