Ergebnis der Vergabe

Deutschland – Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke – Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl - PR517862- 2350 - W

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Beschreibung

PR517862- 2350 - W Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB SEM)

Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Tender Automation die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

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Angaben aus der Bekanntmachung

Auftraggeber: Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
Ort: München
Bundesland: Baden-Württemberg
CPV: 42990000 — Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke
Verfahrensart: Offenes Verfahren
Veröffentlicht: 24.04.2024
Kennung: 07c890aa-371e-40ac-9c06-a79b5ed9b169
Quelle: TED (EU-Amtsblatt)

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Los 0

Zuschlag

FEI Deutschland GmbHDreieich

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Original-Bekanntmachung

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 24.04.2024, 02:00.