Ergebnis der Vergabe

Deutschland – Ionenmikroskope – Zweistrahl Mikroskop System (FIB-SEM)

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1 Los

Beschreibung

Gegenstand der Ausschreibung ist die Lieferung und Installation (Inbetriebnahme) eines Zweistrahl Mikroskop System (in der Ausschreibung auch abgekürzt als FIB-SEM) inkl. Wartungsvertrag. Bei dem angebotenen Gerät hat es sich zwingend um CE-Zertifiziertes Neugerät zu handeln (Näheres dazu unter Kapitel 2 der Vergabeunterlagen).

Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Tender Automation die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

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Angaben aus der Bekanntmachung

Auftraggeber: Max-Planck-Institut für Festkörperforschung
Ort: Stuttgart
Bundesland: Baden-Württemberg
CPV: 38512100 — Ionenmikroskope
Verfahrensart: Verhandlungsverfahren ohne Aufruf zum Wettbewerb
Veröffentlicht: 03.07.2024
Zuschlag am: 12.06.2024
Kennung: fb923199-db43-4fef-8d5e-061096da3d08
Quelle: TED (EU-Amtsblatt)

Lose

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Zuschlag

FEI Deutschland GmbHDreieich

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Original-Bekanntmachung

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 03.07.2024, 02:00.