Ergebnis der Vergabe
Deutschland – Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) – Vergabeverfahren zur Lieferung eines Rasterkraftmikroskop
Beschreibung
Ausgeschrieben wurde ein hochmodernes Rasterkraftmikroskop (AFM) für Forschungszwecke. Neben der topographischen Charakterisierung von Proben muss das AFM für die Charakterisierung von (a) piezo- und ferroelektrischen Eigenschaften, (b) elektronischer und ionischer Leitfähigkeit, (c) Oberflächenpotentialen und (d) mechanischen Eigenschaften und für großflächige und dicke Substrate (3x3x2 cm oder mehr) einsetzbar sein. Gefordert werden zudem Messmodi, die ermöglichen, die Wechselwirkung zwischen Spitze und Probe genau zu steuern um sehr weiche organische Stoffe zu untersuchen, eine laterale Auflösung von sub-Nanometer bis zu einigen Dutzend µm. Ein rausch- und driftfreier Closed-Loop-Betrieb ist ein Muss, ebenso wie die Möglichkeit, die Probentemperatur von Raumtemperatur aufwärts zu steuern. Das System muss Hochspannungsbetrieb unterstützen. Entsprechende Kontrollsoftware sowie ein Steuerungs-PC müssen genauso wie Systeminstallation, Schulung und Lieferung Teil des Angebots sein.
Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Tender Automation die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Analyse ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Universität Heidelberg
- Ort
- Heidelberg
- Bundesland
- Baden-Württemberg
- CPV
-
38000000 — Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)
Weitere: 38510000 - Verfahrensart
- Offenes Verfahren
- Veröffentlicht
- 26.08.2024
- Zuschlag am
- 20.08.2024
- Kennung
- 7cf6d1ea-1dcd-4ba7-9874-16a04c9e4903
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 1
Zuschlag
- Oxford Instruments GmbHWiesbaden
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 26.08.2024, 00:00.