Tender Automation

Ergebnis der Vergabe

Deutschland – Elektronenmikroskope – Präzessions-Elektronenbeugungssystem

1 Bieter
1 Los

Beschreibung

Das Institut für Mikro- und Nanostrukturforschung (IMN) betreibt die elektronenmikroskopische Einrichtung des Center for Nanoanalysis and Electron Microscopy (CENEM), einer zentralen Nutzereinrichtung und Teil des Kompetenzzentrums "Engineering of Advanced Materials" (EAM) der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU). Das CENEM bietet den Forschern der FAU hochauflösende und nanoanalytische Techniken für die fortgeschrittene Materialcharakterisierung. Innerhalb des IMN wurde eine Forschungsgruppe für computergestützte Materialmikroskopie eingerichtet, deren Forschungsschwerpunkt auf computergestützten Mikroskopietechniken liegt, die durch vierdimensionale STEM (4D-STEM) ermöglicht werden. Für die Forschungsthemen in den Bereichen 1) skalenüberbrückende, multimodale atomar auflösende Tomographie, 2) atomar auflösendes Phasenkontrast-Imaging von strahlungsempfindlichen Materialien, 3) Methodenentwicklung für die Echtzeitverarbeitung von 4D-STEM-Datenströmen und 4) Methodenentwicklung für die Automatisierung von multimodalen 4D-STEM-Experimenten wird ein Präzessions-Elektronenbeugungssytsem benötigt, welches zwingend zu dem Fast-Framing-Direktelektronendetektor ARINA der Marke DECTRIS kompatibel sein muss. Hinweis: die Ausschreibung umfasst insgesamt 4 Lose. Bei dieser Ausschreibung handelt es sich um Los 4. Los 1 (schnelle Elektronendirektdetektorkamera für 4D-STEM) wurde bereits im Wege eines europaweiten, offenen Verfahrens vergeben, die Lose 2 (Datenverarbeitungs- und -speicherworkstation) sowie 3 (4D-STEM Scangenerator) gemäß §3 Abs. 9 VgV nach nationalem Vergaberecht.

Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Tender Automation die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

Analyse ansehen

Angaben aus der Bekanntmachung

Ort
Erlangen
Bundesland
Bayern
CPV
38511000 — Elektronenmikroskope
Weitere: 31620000, 38511100, 38511200
Verfahrensart
Offenes Verfahren
Veröffentlicht
19.12.2024
Zuschlag am
18.12.2024
Kennung
de4856d0-d5f7-40e1-bb81-e60b2161c08c
Quelle
TED (EU-Amtsblatt)

Lose

Zuschlag

Zum Vergabeportal

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 19.12.2024, 00:00.